Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté : électronique

Auteur(s) : Martin, John Wilson (1926-....)  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Titre(s) : The local chemical analysis of materials [Texte électronique] / John W. Martin

Publication : Amsterdam ; London : Elsevier, 2003

Description matérielle : 1 ressource dématérialisée

Collection : Pergamon materials series ; v. 9

Note(s) : Includes bibliographical references and index

Sujet(s) : Matériaux -- Analyse  Voir les notices liées en tant que sujet
Chimie des surfaces  Voir les notices liées en tant que sujet
Surfaces (technologie) -- Analyse  Voir les notices liées en tant que sujet
Microanalyse par émission X  Voir les notices liées en tant que sujet
Spectroscopie infrarouge  Voir les notices liées en tant que sujet
Lithographie par faisceau d'ions  Voir les notices liées en tant que sujet
Lithographie par faisceau d'électrons  Voir les notices liées en tant que sujet
Microscopie ionique à émission de champ  Voir les notices liées en tant que sujet
Chimie analytique  Voir les notices liées en tant que sujet

Indice(s) Dewey :  543 (23e éd.) = Chimie analytique  Voir les notices liées en tant que sujet ; 620.11 (23e éd.) = Matériaux de l'ingénieur  Voir les notices liées en tant que sujet

Identifiants, prix et caractéristiques : ISBN 9780080439365

Identifiant de la notice  : ark:/12148/cb446277003

Notice n° :  FRBNF44627700 (notice reprise d'un réservoir extérieur)

Table des matières : Ch. 1 ; Atom Probe Microanalysis --Ch. 2 ; X-Ray Probes for Surface Analysis (XPS or ESCA) --Ch. 3 ; Infrared (IR) and Ultraviolet (UV) Probes for Surface Analysis --Ch. 4 ; Ion Beam Probes for Surface Analysis --Ch. 5 ; Materials Analysis by Electron Beam Probes --Ch. 6 ; The Choice of Technique.