Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté : électronique

Auteur(s) : Symposium D on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials Analysis and Fabrication Process Control (1992 ; Strasbourg, France)  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Titre(s) : Semiconductor materials analysis and fabrication process control [Texte électronique] : proceedings of Symposium D on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials Analysis and Fabrication Process Control of the 1992 E-MRS Spring Conference, Strasbourg, France, June 2-5, 1992 / edited by G.M. Crean, R. Stuck, and J.A. Woollam

Publication : Amsterdam, the Netherlands : North-Holland, 1993

Description matérielle : 1 ressource dématérialisée

Collection : European Materials Research Society symposia proceedings ; v. 34

Note(s) : "Reprinted from Applied surface science 63"--Title page verso. - Includes bibliographical references and indexes

Autre(s) auteur(s) : Crean, G. M.. Fonction indéterminée  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Stuck, R. Fonction indéterminée  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Woollam, John A.. Fonction indéterminée  Voir les notices liées en tant qu'auteur
European materials research society. Fonction indéterminée  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Sujet(s) : Semiconducteurs -- Analyse  Voir les notices liées en tant que sujet
Semiconducteurs -- Propriétés optiques  Voir les notices liées en tant que sujet
Semiconducteurs -- Qualité -- Contrôle  Voir les notices liées en tant que sujet
Production  Voir les notices liées en tant que sujet

Indice(s) Dewey :  537.622 1 (23e éd.) = Structure des semi-conducteurs (physique)  Voir les notices liées en tant que sujet

Identifiants, prix et caractéristiques : ISBN 9780444899088

Identifiant de la notice  : ark:/12148/cb446491110

Notice n° :  FRBNF44649111 (notice reprise d'un réservoir extérieur)