Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté : électronique

Auteur(s) : Sachdev, Manoj  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Titre(s) : Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits [Texte électronique]

Édition : 2nd ed.

Publication : Guildford : Springer London ; Boulder : NetLibrary, Inc. [distributor]

Description matérielle : 1 online resource

Collection : Frontiers in electronic testing ; 34

Autre(s) auteur(s) : Pineda de Gyvez, José. Fonction indéterminée  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Sujet(s) : MOS complémentaires -- Essais  Voir les notices liées en tant que sujet
MOS complémentaires -- Défauts  Voir les notices liées en tant que sujet
Circuits intégrés à très grande échelle -- Essais  Voir les notices liées en tant que sujet
Circuits intégrés à grande échelle -- Défauts  Voir les notices liées en tant que sujet

Indice(s) Dewey :  621.395 0287 (23e éd.) = Systèmes de circuits (génie informatique) - Tests et mesures  Voir les notices liées en tant que sujet ; 621.381 5 (23e éd.) = Composants et circuits (électronique)  Voir les notices liées en tant que sujet

Identifiants, prix et caractéristiques : ISBN 9780387465470

Voir aussi : Publication alternative dans un autre support/format : Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits [Texte imprimé], ISBN 0-387-46546-4

Identifiant de la notice  : ark:/12148/cb446427876

Notice n° :  FRBNF44642787 (notice reprise d'un réservoir extérieur)