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Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté : électronique

Auteur(s) : Palik, Edward D.  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Titre(s) : Handbook of Optical Constants of Solids [Texte électronique]

Publication : Burlington : Elsevier, 1985

Description matérielle : 1 online resource (821 pages)

Collection : Handbook of Optical Constants of Solids, Five-Volume Set


Note(s) : Print version record.
Contributed presentations were given by over 50 researchers representing the state of parallel CFD art and architecture from Asia, Europe, and North America. Major developments at the 1999 meeting were: (1) the effective use of as many as 2048 processors in implicit computations in CFD, (2) the acceptance that parallelism is now the 'easy part' of large-scale CFD compared to the difficulty of getting good per-node performance on the latest fast-clocked commodity processors with cache-based memory systems, (3) favorable prospects for Lattice-Boltzmann computations in CFD (especially for problem


Sujet(s) : Constantes optiques  Voir les notices liées en tant que sujet
Matériaux optiques  Voir les notices liées en tant que sujet
Solides  Voir les notices liées en tant que sujet

Indice(s) Dewey :  530.41 (23e éd.) = Physique de l'état solide  Voir les notices liées en tant que sujet


Identifiants, prix et caractéristiques : ISBN 9780080547213

Identifiant de la notice  : ark:/12148/cb44628095x

Notice n° :  FRBNF44628095 (notice reprise d'un réservoir extérieur)



Table des matières : Front Cover; Handbook of Optical Constants of Solids; Copyright Page; Contents; List of Contributors; PART l: DETERMINATION OF OPTICAL CONSTANTS; Chapter 1. Introductory Remarks; Chapter 2. Basic Parameters for Measuring Optical Properties; Chapter 3. Dispersion Theory, Sum Rules, and Their Application to the Analysis of Optical Data; Chapter 4. Measurement of Optical Constants in the Vacuum Ultraviolet Spectral Region; Chapter 5. The Accurate Determination of Optical Properties by Ellipsometry; Chapter 6. Interferometric Methods for the Determination of Thin-Film Parameters.

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Document numérique : 

1 partie d'exemplaire regroupée

ACQNUM-9861
support : document électronique dématérialisé