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Auteur(s) : International conference on X-ray microscopy (7 ; 2002 ; Grenoble, France)  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Titre(s) : X-Ray microscopy 2002 [Texte imprimé] : 7th International conference on X-ray microscopy, ESRF, Grenoble, France, July 28 - August 2, 2002 / Edited by J. Susini, D. Joyeux, F. Polack

Publication : Les Ulis : EDP Sciences, 2003

Description matérielle : 1 vol. (XXXIII-667 p.) : ill. ; 26 cm

Note(s) : Numéro de : Journal de physique. IV = ISSN 1155-4339 , 104  Voir toutes les notices liées
Notes bibliogr.

Autre(s) auteur(s) : Susini, Jean (1961-....). Éditeur scientifique  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Joyeux, Denis (19..-.... ; physicien). Éditeur scientifique  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Polack, François. Éditeur scientifique  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Sujet(s) : Microscopie à rayons X  Voir les notices liées en tant que sujet
Rayons X  Voir les notices liées en tant que sujet
Imagerie (technique)  Voir les notices liées en tant que sujet

Genre ou forme : Actes de congrès  Voir les notices liées en tant que genre ou forme

Indice(s) Dewey :  502.82 (23e éd.) = Sciences naturelles et mathématiques - Microscopie  Voir les notices liées en tant que sujet

Identifiants, prix et caractéristiques : ISBN 3-540-53605-1 (Berlin). - ISBN 0-387-53605-1 (New York)

Identifiant de la notice  : ark:/12148/cb44207011q

Notice n° :  FRBNF44207011