Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté : microforme

Auteur(s) : Heiser, Thomas (1960-....)  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Titre(s) : Développement d'une technique d'analyse localisée des défauts électriquement actifs dans les semiconducteurs [Microforme] / Thomas Heiser

Publication : Grenoble 2 : ANRT, 1988

Description matérielle : 1 microfiche ; 105 x 148 mm

Note(s) : Th. univ. : Phys. des semiconducteurs : Strasbourg 1 : 1988

Identifiant de la notice  : ark:/12148/cb37614162c

Notice n° :  FRBNF37614162