Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté : microforme

Auteur(s) : Bensaid, Abdelmounim (1959-....)  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Titre(s) : Etude de couches minces par diffraction et fluorescence des rayons X en incidence très rasante [Microforme] : application au silicium poreux et au silicium sur alumine / Abdelmounim Bensaid

Publication : Grenoble 2 : ANRT, 1988

Description matérielle : 1 microfiche ; 105 x 148 mm

Note(s) : Th. univ. : Phys. de l'état condensé et cristallogr. : Grenoble 1 : 1988

Identifiant de la notice  : ark:/12148/cb37611777b

Notice n° :  FRBNF37611777