Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté : sans médiation

Auteur(s) : Tehranipoor, Mohammad H. (1974-....)  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Ahmed, Nisar  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Titre(s) : Nanometer technology designs [Texte imprimé] : high-quality delay tests / Mohammad Tehranipoor, Nisar Ahmed

Publication : New York, NY : Springer, cop. 2008

Description matérielle : 1 vol. (XVII-281 p.) : ill. ; 25 cm

Note(s) : Notes bibliogr.

Sujet(s) : Circuits intégrés à très grande échelle -- Qualité -- Contrôle  Voir les notices liées en tant que sujet
Circuits intégrés à très grande échelle -- Essais  Voir les notices liées en tant que sujet

Indice(s) Dewey :  621.381 548 (23e éd.) = Composants servant aux tests et à la mesure (électronique)  Voir les notices liées en tant que sujet

Identifiants, prix et caractéristiques : ISBN 9780387764863 (rel.). - ISBN 0387764860 (rel.)

Identifiant de la notice  : ark:/12148/cb41188229n

Notice n° :  FRBNF41188229 (notice reprise d'un réservoir extérieur)