Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté : électronique

Titre(s) : Dynamic characterisation of analogue-to-digital converters [Texte électronique] / by Dominique Dallet and José Machado da Silva (eds.)

Publication : Dordrecht : Springer, cop. 2005

Description matérielle : 1 ressource dématérialisée

Collection : The Kluwer international series in engineering and computer science ; SECS 860. Analog circuits and signal processing

Note(s) : Includes bibliographical references and index

Autre(s) auteur(s) : Dallet, Dominique (1964-....). Fonction indéterminée  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Silva, José Machado da. Fonction indéterminée  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Indice(s) Dewey :  621.381 5322 (23e éd.) = Convertisseurs (électronique)  Voir les notices liées en tant que sujet

Identifiants, prix et caractéristiques : ISBN 9780387259031

Identifiant de la notice  : ark:/12148/cb44641602g

Notice n° :  FRBNF44641602 (notice reprise d'un réservoir extérieur)

Table des matières : ADC applications, architectures and terminology / José Machado da Silva, Hélio Mendonça ; Sinewave test setup / Pierre-Yves Roy, Jacques Durant ; Time-domain data analysis / Dominique Dallet, Djamel Haddadi, Philippe Marchegay ; Frequency-domain data analysis / Pierre-Yves Roy, Jacques Durant ; Code histogram text / Giovanni Chiorboli, Carlo Morandi ; Comparative study of ADC sinewave test methods / José Machado da Silva, Helio Mendonça, Sara Mazoleni ; Jitter measurement / Pierre-Yves Roy, Jacques Durant ; Differential gain and phase testing / José Machado da Silva, Hélio Mendonça ; Step and transient response measurement / Giovanni Chiorboli, Carlo Morandi ; Hysteresis measurement / Giovanni Chiorboli, Carlo Morandi.