Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté. Image fixe : sans médiation

Titre(s) : Design and test technology for dependable systems-on-chip [Texte imprimé] / Raimund Ubar, Jaan Raik, Heinrich Theodor Vierhaus, [editors]

Publication : Hershey : Information science reference, cop. 2011

Description matérielle : 1 vol. (XXVI-550 p.) : ill. ; 29 cm

Note(s) : Notes bibliogr.

Autre(s) auteur(s) : Ubar, Raimund (1941-....). Éditeur scientifique  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Raik, Jaan (1972-....). Éditeur scientifique  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Vierhaus, Heinrich Theodor (1951-....). Éditeur scientifique  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Sujet(s) : Circuits intégrés -- Accès -- Contrôle -- Design  Voir les notices liées en tant que sujet
Circuits intégrés -- Accès -- Contrôle -- Essais  Voir les notices liées en tant que sujet

Indice(s) Dewey :  621.381 5 (23e éd.)  Voir les notices liées en tant que sujet

Identifiants, prix et caractéristiques : ISBN 9781609602123. - ISBN 9781609602147 (rel.)

Identifiant de la notice  : ark:/12148/cb42422647n

Notice n° :  FRBNF42422647 (notice reprise d'un réservoir extérieur)