Notice bibliographique

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Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte. Image fixe : sans médiation

Titre(s) : Design and test technology for dependable systems-on-chip [Texte imprimé] / Raimund Ubar, Jaan Raik, Heinrich Theodor Vierhaus, [editors]

Publication : . - Hershey : Information science reference, cop. 2011

Description matérielle : 1 vol. (XXVI-550 p.) : ill. ; 29 cm

Note(s) : Notes bibliogr.


Autre(s) auteur(s) : Ubar, Raimund (1941-....). Éditeur scientifique  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Raik, Jaan (1972-....). Éditeur scientifique  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Vierhaus, Heinrich Theodor (1951-....). Éditeur scientifique  Voir les notices liées en tant qu'auteur


Sujet(s) : Circuits intégrés -- Accès -- Contrôle -- Design  Voir les notices liées en tant que sujet
Circuits intégrés -- Accès -- Contrôle -- Essais  Voir les notices liées en tant que sujet

Indice(s) Dewey : 621.381 5 (23e éd.)  Voir les notices liées en tant que sujet


Numéros : ISBN 9781609602123. - ISBN 9781609602147 (rel.)

Notice n° :  FRBNF42422647 (notice reprise d'un réservoir extérieur)



Localiser ce document(1 Exemplaire)

Tolbiac - Rez-de-jardin - libre-accès - Sciences et techniques - Salle S - Sciences de l'ingénieur

1 partie d'exemplaire regroupée

621.381 5 UBAR d
support : livre