Notice bibliographique
- Notice
000 cam 22 3 450
001 FRBNF424226470000004
010 .. $a 9781609602123
010 .. $a 9781609602147 $b rel.
035 .. $a ocn751783095OCoLC
100 .. $a 20111003d2011 m y0frey50 ba
101 0. $a eng
102 .. $a US
105 .. $a a z 00|||
106 .. $a r
181 .0 $6 01 $a i $b xxxe $a b $b xb2e
181 .. $6 02 $c txt $c sti $2 rdacontent
182 .0 $6 01 $a n
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200 1. $a Design and test technology for dependable systems-on-chip $b Texte imprimé $f Raimund Ubar, Jaan Raik, Heinrich Theodor Vierhaus, [editors]
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606 .. $3 11931204 $a Circuits intégrés $3 11973131 $x Accès $x Contrôle $3 11975280 $x Design $2 rameau
606 .. $3 11931204 $a Circuits intégrés $3 11973131 $x Accès $x Contrôle $3 11976783 $x Essais $2 rameau
676 .. $a 621.381 5 $v 23
801 .3 $a US $b OCoLC $c 20111003 $h ocn751783095 $2 marc21
930 .. $5 FR-751131009:42422647001001 $a 621.381 5 UBAR d $b 759999999 $c Tolbiac - Rez de Jardin - Sciences et technique - Salle S - Libre accès $d N