Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté : sans médiation

Auteur(s) : Conference on X-ray and ultraviolet spectroscopy and polarimetry (02 ; 1997 ; San Diego (Calif.))  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Titre(s) : X-ray and ultraviolet spectroscopy and polarimetry II [Texte imprimé] : 23 july-24 july 1997, San Diego, California / Silvano Fineschi, ed.

Publication : Bellingham (D.C.) : SPIE press, 1997

Description matérielle : 160 p. : ill. ; 28 cm

Collection : Proceedings of SPIE ; 3443

Lien à la collection : Proceedings of SPIE, the International society for optical engineering  Voir toutes les notices liées

Note(s) : Notes bibliogr. Index

Autre(s) auteur(s) : Fineschi, Silvano. Éditeur scientifique  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Society of photo-optical instrumentation engineers. Éditeur scientifique  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Sujet(s) : Rayons X  Voir les notices liées en tant que sujet
Spectroscopie astronomique  Voir les notices liées en tant que sujet
Polarimétrie  Voir les notices liées en tant que sujet

Genre ou forme : Actes de congrès  Voir les notices liées en tant que genre ou forme

Identifiants, prix et caractéristiques : ISBN 0-8194-2898-1 (br.)

Identifiant de la notice  : ark:/12148/cb392895512

Notice n° :  FRBNF39289551