Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté : microforme

Auteur(s) : Wetzel, Patrick (1962-....). Auteur du texte  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Titre(s) : Etude de l'interface Cr/Si(III) par photoémission angulaire et diffraction d'électrons lents [Microforme] : épitaxie des siliciures CrSi et CrSi sur Si(III) / Patrick Wetzel

Publication : Grenoble 2 : ANRT, 1988

Description matérielle : 1 microfiche ; 105 x 148 mm

Note(s) : Th. univ. : Phys. : Mulhouse : 1988

Identifiant de la notice  : ark:/12148/cb37619231k

Notice n° :  FRBNF37619231