Notice bibliographique

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000 cam 22 450

001 FRBNF374011460000006

003 http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb37401146v

010 .. $a 0-89573-745-0 $b New York

010 .. $a 3-527-27842-7 $b Weinheim

039 .. $o GEA $a 001101148

100 .. $a 19931221d1993 m y0frey50 ba

101 0. $a eng

102 .. $a US $a DE

105 .. $a a z 00|y|

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200 1. $a X-ray diffraction at elevated temperatures $b Texte imprimé $e a method for in situ process analysis $f D. D. L. Chung,... P. W. DeHaven,... H. Arnold... [et al.]

210 .. $a New York $a Cambridge $a Weinheim $c VCH $d cop. 1993

215 .. $a VIII-268 p. $c ill. $d 24 cm

300 .. $a Notes bibliogr. Index

606 .. $3 11952955 $a Spectroscopie des rayons X $2 rameau

606 .. $3 11951095 $a Rayons X $x Diffraction $2 rameau

676 .. $a 543.62 $v 23

801 .0 $a FR $b FR-751131015 $c 19931221 $g AFNOR $h FRBNF374011460000006 $2 intermrc

930 .. $5 FR-751131009:37401146001001 $a 543.085 86 XRAY $b 759999999 $c Tolbiac - Haut de Jardin - Sciences et technique - Salle C - Libre accès $d N

930 .. $5 FR-751131009:37401146002001 $a 2000-235159 $b 759999999 $c Tolbiac - Rez de Jardin - Sciences et technique - Magasin $d O