Notice de personne
- Notice
Au format public
Kuo, Way (1951-....) forme internationale
Langue(s) :
anglais
Responsabilité(s) exercée(s) sur les documents :
Auteur
Naissance :
1951-01-05
Spécialiste en microélectronique. - En poste : Texas A&M university, College station
(en 1998).
Source(s) :
Reliability, yield, and stress burn-in : a unified approach for microelectronics systems manufacturing & software development / by Way Kuo, Wei-Ting Kary Chien, Taeho Kim, 1998
LCNA (CD), 1996-06
Reliability, yield, and stress burn-in : a unified approach for microelectronics systems manufacturing & software development / by Way Kuo, Wei-Ting Kary Chien, Taeho Kim, 1998
LCNA (CD), 1996-06
Identifiant international de l'autorité :
ISNI 0000 0001 1059 9844
, cf.
http://isni.org/isni/0000000110599844
Identifiant de la notice : ark:/12148/cb134908261
Notice n° :
FRBNF13490826
Création :
99/02/09
