Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté. Image fixe : sans médiation

Auteur(s) : Kuo, Way (1951-....)  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Chien, Wei-Ting Kary (1965-....)  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Kim, Tae-Ho (1960-....)  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Titre(s) : Reliability, yield, and stress burn-in [Texte imprimé] : a unified approach for microelectronics systems manufacturing & software development / by Way Kuo, Wei-Ting Kary Chien, Taeho Kim

Publication : Boston ; Dordrecht ; London : Kluwer academic publ., cop. 1998

Description matérielle : XXVI-394 p. : ill. ; 24 cm

Note(s) : Bibliogr. p. [333]-361. Index

Sujet(s) : Circuits intégrés -- Conception et construction  Voir les notices liées en tant que sujet
Microélectronique -- Fiabilité  Voir les notices liées en tant que sujet
Logiciels -- Développement -- Fiabilité  Voir les notices liées en tant que sujet
Semiconducteurs -- Logiciels -- Fiabilité  Voir les notices liées en tant que sujet

Indice(s) Dewey :  621.381 (23e éd.) = Électronique (technologie)  Voir les notices liées en tant que sujet

Identifiants, prix et caractéristiques : ISBN 0-7923-8107-6 (rel.)

Identifiant de la notice  : ark:/12148/cb375359909

Notice n° :  FRBNF37535990 (notice reprise d'un réservoir extérieur)