Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté : sans médiation

Auteur(s) : Snyder, Robert L. (1941-....)  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Fiala, Jaroslav  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Bunge, Hans J. (19..-.... ; physicien)  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Titre(s) : Defect and microstructure analysis by diffraction [Texte imprimé] / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, and Hans J. Bunge

Publication : Oxford : Oxford university press, 1999

Description matérielle : 1 vol. (XXII-785 p.) : ill. ; 24 cm

Collection : International Union of Crystallography Monographs on crystallography ; 10

Lien à la collection : International union of crystallography monographs on crystallography  Voir toutes les notices liées

Note(s) : Notes bibliogr.

Sujet(s) : Cristallographie  Voir les notices liées en tant que sujet
Diffraction  Voir les notices liées en tant que sujet
Microstructure (physique)  Voir les notices liées en tant que sujet

Indice(s) Dewey :  530.413 (23e éd.) = Physique de l'état solide - Catégories  Voir les notices liées en tant que sujet

Identifiants, prix et caractéristiques : ISBN 0-19-850189-7 (rel.)

Identifiant de la notice  : ark:/12148/cb38820092r

Notice n° :  FRBNF38820092