Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté : électronique

Titre(s) : Applied scanning probe methods VIII [Texte électronique] : scanning probe microscopy techniques / [edited by] Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori

Publication : Berlin ; New York : Springer, 2008

Description matérielle : 1 ressource dématérialisée

Collection : Nanoscience and technology

Note(s) : Includes bibliographical references and index

Autre(s) auteur(s) : Bhushan, Bharat (1949-....)  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Fuchs, Harald (1951-....). Fonction indéterminée  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Tomitori, Masahiko. Fonction indéterminée  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Sujet(s) : Microscopie à sonde à balayage  Voir les notices liées en tant que sujet
Microscopie -- Technique  Voir les notices liées en tant que sujet
Nanotechnologie  Voir les notices liées en tant que sujet

Indice(s) Dewey :  620.112 99 (23e éd.) = Matériaux (ingénierie) - Propriétés microphysiques  Voir les notices liées en tant que sujet ; 502.82 (23e éd.) = Sciences naturelles et mathématiques - Microscopie  Voir les notices liées en tant que sujet

Identifiants, prix et caractéristiques : ISBN 9783540740803

Identifiant de la notice  : ark:/12148/cb44695564r

Notice n° :  FRBNF44695564 (notice reprise d'un réservoir extérieur)