Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté. Image fixe : sans médiation

Auteur(s) : Richards, B. P.  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Footner, P. K.  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Titre(s) : The role of microscopy in semiconductor failure analysis [Texte imprimé] / B. P. Richards and P. K. Footner,...

Publication : Oxford : Oxford univ. press, 1992

Description matérielle : VI-108 p. : ill. ; 24 cm

Collection : Microscopy handbooks ; 25

Lien à la collection : Microscopy handbooks  Voir toutes les notices liées

Note(s) : Bibliogr. p. 98-99. Index

Sujet(s) : Semiconducteurs -- Essais  Voir les notices liées en tant que sujet
Semiconducteurs -- Défauts  Voir les notices liées en tant que sujet
Microscopes  Voir les notices liées en tant que sujet

Indice(s) Dewey :  621.381 5 (23e éd.)  Voir les notices liées en tant que sujet

Numéros : ISBN 0-19-856432-5

Identifiant de la notice  : ark:/12148/cb37398514q

Notice n° :  FRBNF37398514