Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté. Image fixe : sans médiation

Titre(s) : Microelectronic reliability [Texte imprimé]. Volume I, Reliability, test and diagnostics / [ed. by] Edward B. Hakim

Lien au titre d'ensemble : Appartient à : Microelectronic reliability  Voir toutes les notices liées

Publication : Norwood (Mass.) : Artech house, cop. 1989

Description matérielle : XVIII-374 p. : ill. ; 24 cm

Collection : The Artech house materials science library

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Note(s) : Notes bibliogr. à la fin de chaque chap. Index

Autre(s) auteur(s) : Hakim, Edward B.. Éditeur scientifique  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Sujet(s) : Semiconducteurs  Voir les notices liées en tant que sujet
Fiabilité  Voir les notices liées en tant que sujet

Indice(s) Dewey :  621.381 52 (23e éd.) = Semi-conducteurs  Voir les notices liées en tant que sujet

Identifiants, prix et caractéristiques : ISBN 0-89006-284-6

Identifiant de la notice  : ark:/12148/cb37380812q

Notice n° :  FRBNF37380812