Notice bibliographique
- Notice
Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté. Image fixe : sans médiation
Auteur(s) : Bourgoin, Jacques (1938-....)
Lannoo, Michel (1942-....)
Titre(s) : Point defects in semiconductors [Texte imprimé]. Volume II, Experimental aspects / J. Bourgoin, M. Lannoo ; with a foreword by G. D. Watkins
Titre d'ensemble : Point defects in semiconductors ; 2
Lien au titre d'ensemble : Appartient à : Point defects in semiconductors
Publication : Berlin ; Heidelberg ; New York : Springer-Verlag, cop. 1983
Description matérielle : XVI-295 p. : ill. ; 25 cm
Collection : Springer series in solid-state sciences ; 35
Lien à la collection : Springer series in solid-state sciences
Note(s) : Bibliogr. p. 271-279. Index
Autre(s) auteur(s) : Watkins, G. D.. Préfacier
Sujet(s) : Semiconducteurs -- Défauts
Défauts ponctuels
Indice(s) Dewey :
537.622 (23e éd.) = Semi-conductivité
Identifiants, prix et caractéristiques : ISBN 3-540-11515-3 (Berlin) (rel.). - ISBN 0-387-11515-3 (New York) (rel.)
Identifiant de la notice : ark:/12148/cb37370663v
Notice n° :
FRBNF37370663