Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté. Image fixe : sans médiation

Auteur(s) : Bourgoin, Jacques (1938-....)  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Lannoo, Michel (1942-....)  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Titre(s) : Point defects in semiconductors [Texte imprimé]. Volume II, Experimental aspects / J. Bourgoin, M. Lannoo ; with a foreword by G. D. Watkins

Titre d'ensemble : Point defects in semiconductors ; 2

Lien au titre d'ensemble : Appartient à : Point defects in semiconductors  Voir toutes les notices liées

Publication : Berlin ; Heidelberg ; New York : Springer-Verlag, cop. 1983

Description matérielle : XVI-295 p. : ill. ; 25 cm

Collection : Springer series in solid-state sciences ; 35

Lien à la collection : Springer series in solid-state sciences  Voir toutes les notices liées

Note(s) : Bibliogr. p. 271-279. Index

Autre(s) auteur(s) : Watkins, G. D.. Préfacier  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Sujet(s) : Semiconducteurs -- Défauts  Voir les notices liées en tant que sujet
Défauts ponctuels  Voir les notices liées en tant que sujet

Indice(s) Dewey :  537.622 (23e éd.) = Semi-conductivité  Voir les notices liées en tant que sujet

Identifiants, prix et caractéristiques : ISBN 3-540-11515-3 (Berlin) (rel.). - ISBN 0-387-11515-3 (New York) (rel.)

Identifiant de la notice  : ark:/12148/cb37370663v

Notice n° :  FRBNF37370663