Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté. Image fixe : sans médiation

Auteur(s) : Jiye, Ximen  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Titre(s) : Aberration theory in electron and ion optics [Texte imprimé] / Ximen Jiye,...

Publication : Orlando ; San Diego ; New York[etc.] : Academic press, cop. 1986

Description matérielle : XI-433 p. : ill. ; 23 cm

Collection : Advances in electronics and electron physics, Supplement ; 17

Lien à la collection : Advances in electronics and electron physics, Supplement  Voir toutes les notices liées

Note(s) : Notes bibliogr. Index

Sujet(s) : Électronique  Voir les notices liées en tant que sujet
Électrons  Voir les notices liées en tant que sujet
Ions  Voir les notices liées en tant que sujet
Aberration (astronomie)  Voir les notices liées en tant que sujet

Indice(s) Dewey :  621.381 05 (23e éd.) = Électronique (technologie) - Publications en série  Voir les notices liées en tant que sujet ; 537.56 (23e éd.) = Optique électronique et ionique (physique)  Voir les notices liées en tant que sujet

Identifiants, prix et caractéristiques : ISBN 0-12-014579-0

Identifiant de la notice  : ark:/12148/cb37353775f

Notice n° :  FRBNF37353775