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Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté : sans médiation

Auteur(s) : International integrated reliability workshop (1998 ; Lake Tahoe, Calif.)  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Titre(s) : 1998 IEEE international integrated reliability workshop final report [Texte imprimé] : Stanford Sierra camp, Lake Tahoe, California, October 12-15, 1998 / sponsored by the IEEE electron devices society and the IEEE reliability society

Publication : Piscataway : EDS : Reliability society of the IEEE, cop. 1998

Description matérielle : VI-140 p. : ill. ; 28 cm

Note(s) : Notes bibliogr. en fin de chapitre


Autre(s) auteur(s) : Electron devices society. Éditeur scientifique  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Institute of electrical and electronics engineers. Professional technical group on reliability. Éditeur scientifique  Voir les notices liées en tant qu'auteur


Sujet(s) : Circuits intégrés -- Fiabilité  Voir les notices liées en tant que sujet
Intégration sur tranche entière (circuits intégrés) -- Fiabilité  Voir les notices liées en tant que sujet

Genre ou forme : Actes de congrès  Voir les notices liées en tant que genre ou forme

Indice(s) Dewey :  621.381 5 (23e éd.)  Voir les notices liées en tant que sujet


Numéros : ISBN 0-7803-4881-8 (br.)

Notice n° :  FRBNF37321387



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