Notice RAMEAU

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001 FRBNF162550710
003 http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb162550713
005 20110111
035 .. $a (Sudoc)148720633
100 .. $a 20110107afrey50 ba0
106 .. $a 211
152 .. $b rameau $c 2
250 .. $7 ba0yba0y $8 fre $9 $a Autotest intégré
450 .. $7 ba0yba0y $8 fre $9 $a Auto-test (électronique)
450 .. $7 ba0yba0y $8 fre $9 $a Auto-test intégré
450 .. $7 ba0yba0y $8 fre $9 $a Autotest (électronique)
450 .. $7 ba0yba0y $8 fre $9 $a BIST (électronique)
450 .. $7 ba0yba0y $8 fre $9 $a Built-In Self Test
450 .. $7 ba0yba0y $8 fre $9 $a Test intégré (électronique)
550 .. $5 z $0 Voir aussi $3 11931204 $7 ba0yba0y $8 fre $9 $a Circuits intégrés
550 .. $5 g $3 11950704 $7 ba0yba0y $8 fre $9 $a Essais (technologie)
550 .. $5 g $3 13162962 $7 ba0yba0y $8 fre $9 $a Maintenance automatisée
686 .. $a 600 $c Sciences appliquées $2 Note de regroupement par domaine
801 .. $a FR $b FR-751131015 $c 20110111
810 .. $a Test des circuits intégrés numériques / R. Leveugle [in] Techniques de l'ingénieur, 2002, E2460 $a TermSciences : autotest ; built-in self test - http://www.termsciences.fr (2011-01-10) $a Étude d'une stratégie d'autotest intégré pour le compilateur de silicium SYCO / K. Torki, 1988 [thèse]
856 .. $u http://www.termsciences.fr $e 2011-01-10