Notice de personne

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010 .. $a 0000000374961149 $2 ISNI $d 20131217
039 .. $o OPL $a 011451264
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103 .. $a 19601206
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200 .| $7 ba0yba0y $8 fre $9 0 $a Heiser $b Thomas $f 1960-....
300 0. $a Titulaire d'un doctorat d'université en physique des semiconducteurs (Strasbourg 1, 1988)
801 .. $a FR $b FR-751131015 $c 19950524
810 .. $a Développemnt d'une technique d'analyse localisée des défauts électriquement actifs dans les semiconducteurs / Thomas Heiser, 1988 [thèse univ.]

Notices bibliographiques liées

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