Notice de personne

  • Notice
Roy, François (1959-....) forme internationale

Pays :  France
Langue(s) :  français
Responsabilité(s) exercée(s) sur les documents :  Auteur
Naissance :  1959-08-05

Titulaire d'un doctorat d'université en microélectronique (Paris 11, 1986).


Source(s) : 
Caractérisation des transistors couches minces à base de silicium amorphe hydrogéné : analyse des processus de dégradation / François Roy, 1986 [thèse univ.]



Identifiant international :  ISNI 0000 0000 0149 2714 , cf. http://isni.org/isni/0000000001492714
Notice n° :  FRBNF12282488

Création :  92/12/18

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