Type(s) de contenu et mode(s) de consultation : Texte noté : sans médiation

Titre(s) : X-ray spectrometry in electron beam instruments [Texte imprimé] / ed. by David B. Williams,... Joseph I. Goldstein,... and Dale E. Newbury,...

Publication : New York ; London : Plenum press, cop. 1995

Description matérielle : XVIII-372 p. ; 26 cm

Note(s) : Bibliogr. à la fin de chaque chapitre. Index

Autre(s) auteur(s) : Goldstein, Joseph (1939-....)  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Newbury, Dale E.  Voir les notices liées en tant qu'auteur
Williams, David Bernard (1949-....)  Voir les notices liées en tant qu'auteur

Sujet(s) : Spectroscopie des rayons X  Voir les notices liées en tant que sujet
Microanalyse par émission X  Voir les notices liées en tant que sujet
Microanalyse par sonde électronique  Voir les notices liées en tant que sujet
Faisceaux électroniques -- Instruments  Voir les notices liées en tant que sujet

Indice(s) Dewey :  543.62 (23e éd.) = Spectroscopie des rayons X et électronique  Voir les notices liées en tant que sujet

Identifiants, prix et caractéristiques : ISBN 0-306-44858-0 (rel.)

Identifiant de la notice  : ark:/12148/cb37472306v

Notice n° :  FRBNF37472306